Für den Entwurf recherchieren und studieren Architekten Pläne von bereits gebauten und entworfenen Gebäuden. Aktuell steht die Information als verteiltes kollektives Gedächtnis vorwiegend in Monografien, Zeitschriften und im Internet zur Verfügung. Jedoch ist diese Information nur bedingt zugänglich weil keine einheitlichen Begriffe verwendet werden und somit unstrukturierte und subjektive Metadaten zielführende Recherchen erschweren.

Aufbau und Abfragemöglichkeiten von Wissen sind für die Entwicklung einer Gesellschaft in wissenschaftlicher, wirtschaftlicher und sozialer Hinsicht essenziell. Wissen wird als nutzbare Information aufgefasst. Die Abgrenzung von Wissen, Information und Daten ist in der Literatur nicht eindeutig, es kann jedoch am Maß der notwendigen Aufbereitung der Information in Datenstrukturen, um als Wissen nutzbar zu sein, bestimmt werden.

Ziel ist die informationstechnische Unterstützung der frühen Phasen des Entwurfsprozess, um effizient ähnliche architektonische Situationen als Inspiration, konkrete Lösung oder zur Ermittlung des eigentlichen Problems recherchieren zu können. Der iterative Charakter des Entwurfsprozess bedingt einen kontinuierlichen Wechsel zwischen kreativen, analytischen und prüfenden Schritten, um durch die Auswahl aus den vielversprechendsten Varianten den sinnvollsten Entwurfsansatz auszuwählen.

Zur Formalisierung architektonischer Situationen und der computergestützten Ermittlung der Ähnlichkeit wird der semantische Fingerabdruck von Gebäuden, ähnlich der Identifizierung von Personen, vorgeschlagen. Zur Abbildung der räumlichen Struktur von architektonischen Situationen werden graphenbasierte Ansätze untersucht und verschiedene semantische Fingerabdrücke für beispielsweise Raum- und Bauteilverbindungen, Ausrichtung, Orientierung oder städtebauliche Integration in Graphen formalisiert.

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AkadR. Dr.-Ing.
Architekt Christoph Langenhan
Technische Universität München
Chair for Architectural Informatics
Prof. Dr.-Ing. Frank Petzold
fon: +49 (0) 89 289 25 042
fax: +49 (0) 89 289 22 179
langenhan@ai.ar.tum.de
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